COMPROBADOR MULTIFUNCIÓN DE INSTALACIONES
Productos de sustitución
Productos descatalogados
CIRCUITO+RCD
Descripción general del producto
- Kew Combitester proporciona lo último en tecnología de microprocesadores que ofrece pruebas de lazo y RCD con una memoria completa y descarga de resultados de pruebas.
- La medición del rango de impedancia LOOP 200/2000Ω se realiza mediante el uso de una corriente de prueba de 15mA. Esta corriente no disparo los RCD con una clasificación de 30mA o superior.
- Alta resolución para impedancia de lazo baja (resolución de 0,01Ω) en el rango 20Ω .
- Lectura directa de corriente de fallo de tierra y Prospective Short Circuit Current (PSC) .
- Las pruebas de RCD con interruptores de ángulo de fase de 0 y 180 grados permiten realizar pruebas rápidas y lecturas uniformes.
- Prueba de un gran tipo de interruptores RCD estándar, selectivos, de CA y A (disyuntores sensibles a CC ).
- Los circuitos de fuente de corriente constante garantizan que una tensión de red fluctuante no afecte a la precisión de las lecturas.
- Prueba de rampa del RCD para indicar la corriente de disparo real del RCD.
- Lectura de voltaje de contacto (UC) con dos límites de voltaje de contacto seleccionables (50 y 25V).
- Indicación visual del estado correcto del cableado y bloqueo automático si las resistencias de prueba se sobrecalientan.
- Diseñado según IEC 61010-1, IEC 61557 y alto grado de protección IP54.
- Los datos almacenados se pueden transferir al PC a través del adaptador óptico modelo 8212-RS232C y 8212-USB.
Especificación
| Rangos de impedancia de lazo (lectura Z) |
20/200/2000Ω | |
|---|---|---|
| Rangos de impedancia de lazo sin disparar los RCD |
200 y 2000Ω con 15mA de prueba corriente | |
| corriente de prueba máx. en rangos de lazo | 3A (20Ω) / 15mA (200 y 2000Ω) | |
| PSC / Rangos de corriente de fallo de Earth | 200/2000A/20kA | |
| Tipo de CA de prueba RCD (estándar y selectivo) |
× 1/2 | 10, 30, 100, 300, 500, 1000mA |
| × 1 | 10, 30, 100, 300, 500, 1000mA | |
| × 5 | 10, 30, 100mA | |
| Auto Ramp | 10, 30, 100, 300, 500mA | |
| Prueba RCD tipo A (estándar y selectiva) |
10, 30, 100, 300, 500mA | |
| Multiplicadores de corrientes de prueba RCD | × 1/2, × 1, × 5 (máx. 1000mA tipo CA) (máx. 500mA tipo A) |
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| Duración del tiempo de prueba de RCD | 1000ms: × 1/2, × 1, CC 200ms: × 5, CC (500mA) y × 1 (1000mA) |
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| Prueba de rampa RCD | De 20% a 110% de IΔn (tipo CA ) | |
| Bloque de voltaje de contacto (RCD) | 50V y 25V | |
| Lectura de voltaje de contacto (RCD) | 100,0V | |
| Mediciones de fase y Earth (solo 2 hilos) |
RCD (sin CC) CIRCUITO |
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| Tensión de trabajo para pruebas de lazo | 20Ω: 230V+10%-15% 200/2000Ω: 230V+10 %-15 % y 400V+10 %-15 % |
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| Voltaje de trabajo para pruebas RCD | 230V+10%-15% | |
| Prueba de tensión | 100 - 260V [50Hz] (LOOP 200/2000Ω, PSC 200A:100 - 440V) |
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| Memoria | 300 ubicaciones de memoria | |
| Software para PC, cable de conexión | opcional con 8212-USB, 8212-RS232C | |
| Normas de seguridad | IEC 61010-1 CAT III 300V, IEC 61557 | |
Catálogo y documento
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- Catálogo de productos
